样品与前置条件
- 平整、洁净并具有代表性的观察面
- 标尺经过物镜或系统校准
- 对需要腐蚀的样品保留腐蚀前图像
建议工作流
- 低倍扫描完整截面并选择记录区域
- 设置照明、白平衡和曝光，避免饱和
- 在多个预先定义视场采集
- 添加基于标定的标尺并保存原图
- 按既定规则完成晶粒、相比例或缺陷统计
结果怎么解释
- 明场适合常规腐蚀组织
- 偏光和 DIC 可增强取向或表面起伏信息
- 定量结果必须关联抽样规则和分割参数
局限与常见误区
- 横向分辨率受可见光波长限制
- 三维结构被压缩为二维截面
- 制样伪影可能与真实第二相或裂纹相似
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。